应用

CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的

情况下进行表面镀层厚度的测量  ，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。

行业

用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器……多个行业表面镀层厚度的测量。

主要规格               规格描述

 X射线激发系统        垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗

                       标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等

                       功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准

                             75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选

                             装备有安全防射线光闸

                             二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选

 准直器程控交换系统    最多可同时装配6种规格的准直器

                       多种规格尺寸准直器任选：

                       －圆形，如4、6、8、12、20 mil等

                       －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

测量斑点尺寸          在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：

0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)

                      在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)

 样品室              

－样品室结构                开槽式样品室

－最大样品台尺寸            610mm x 610mm

－XY轴程控移动范围         标准：152.4 x 177.8mm还有5种规格任选

－Z轴程控移动高度          43.18mm

－XYZ三轴控制方式         多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制

 －样品观察系统             高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。

                            （50倍和100倍观察系统任选。）激光自动对焦功能

                             可变焦距控制功能和固定焦距控制功能

样品种类：                   镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)

                             可检测元素范围：Ti22 – U92。可同时测定5层/15种元素/共存元素校正

                             贵金属检测，如Au karat评价

                             材料和合金元素分析，材料鉴别和分类检测

                             液体样品分析，如镀液中的金属元素含量

                             多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析

－调整和校正功能             系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移

－测量自动化功能             鼠标激活测量模式：“Point and Shoot”多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式和重复测量模式，测量位置预览功能，激光对焦和自动对焦功能

－样品台程控功能             设定测量点，连续多点测量，测量位置预览

－统计计算功能               平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图，数据分组、X-bar/R图表、直方图数据库存储功能

－系统安全监测功能           Z轴保护传感器，样品室门开闭传感器

●精度高、稳定性好

●强大的数据统计、处理功能

●测量范围宽

●NIST认证的标准片

●全球服务及支持