技术指标:
分析范围 :1PPM---99.99%
测量时间 :60---300 秒
分析精度 :0.1%---99.99%
测量范围 :Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd、Rh、Cd、Ru 、Pt
测镀层厚度、精度：0.03um
重 量 :30KG
尺 寸 :350*500*400mm
X射线源 :X射线光管。
探测器 :正比计数管
仪 器 配 置：
单样品腔
正比计数器
放大电路
高低压电源
X光管
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